芯片落下测试仪
产品背景
跌落试验是IC产品可靠性测试中重要的内容，传统试验是将IC布置在测试电路板上进行跌落操作，跌落完成后取出IC测量chain电阻值来分析IC的失效情况（Event detector报告）。
但是IC从跌落到恢复静止的过程中，也会发生临时性的失效情况，这些问题会导致产品在使用过程中的可靠性问题，例如iPhone产品就对此性能有要求，而传统的测试手段无法捕获此类问题。
设备特色
- 配合跌落试验平台，本系统可以高速捕获IC在跌落过程中发生的问题（Event监测）
- 取代传统Event detector ，提供更完整精确的信息
- 提供高速电阻测量，最高可达每通道1 MS/s
- 采用PXI高规格主机，最多可支持64通道
- 自動NG判定，符合JEDEC准则
- 多通道测量曲线显示，Event状态一目了然
- 高精度且抗杂讯能力强大
- 可与现有跌落试验机整合，达到自动测试功能
- 可结合加速规模组，执行高于10000 g跌落电阻与加速度测量
- 可结合应变模组，同时测量电阻与应变信息
- 及时分析Peak 加速度、速度、Duration
- 可做多次Drop之趋势分析
数据信息即时显示、记录、分析、各式报表生成于一体，有效提高工作效率。
技术规格
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指标 |
规格 |
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系统架构 |
PXI Express |
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插槽数 |
8 |
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通道数 |
4N (N ≤ 16), Max. 64 Ch. |
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连续取样速度 |
Max. 50 kS/ch (@16 ch) |
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触发取样速度 |
Max. 1MS/ch |
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电阻测量解析度 |
16 bit |
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电阻测量档位 |
20Ω，100Ω，1kΩ，10kΩ，100kΩ，1MΩ，10MΩ |
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电阻波形记录 |
支持 |
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长时连续记录 |
支持 |
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测量方式 |
连续获取 或 外部触发获取 |
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NG判断条件 |
每通道独立设定 |
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各通道Fail准则 |
弹性设定（X 次 Drop 有 Y 次 NG） |
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与跌落机同步触发 |
支持 |
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滤波功能 |
Low pass, High pass, Band pass |
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各通道滤波频率独立设定 |
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统计运算 |
支持 |
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虚拟通道 |
支持 |
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图表格式 |
Y-T Graph, X-Y Graph, Bar Chart, Trend |
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Event过程记录 |
支持 |
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报表输出格式 |
Excel，ASCII |
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外部触发模组 |
高速光电感测器 |
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高g值加速度模组（Option） |
支持IEPE 或 Charge 或Bridge Type加速规 |
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分析Peak 加速度、速度、Duration |
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多次Drop趋势分析 |
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支持语言 |
英文 |
