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26芯片落下测试仪

芯片落下测试仪

产品背景

跌落试验是IC产品可靠性测试中重要的内容,传统试验是将IC布置在测试电路板上进行跌落操作,跌落完成后取出IC测量chain电阻值来分析IC的失效情况(Event detector报告)。

但是IC从跌落到恢复静止的过程中,也会发生临时性的失效情况,这些问题会导致产品在使用过程中的可靠性问题,例如iPhone产品就对此性能有要求,而传统的测试手段无法捕获此类问题。

设备特色

  • 配合跌落试验平台,本系统可以高速捕获IC在跌落过程中发生的问题(Event监测)
  • 取代传统Event detector ,提供更完整精确的信息
  • 提供高速电阻测量,最高可每通道1 MS/s
  • 采用PXI高规格主机,最多可支持64通道
  • 自動NG判定,符合JEDEC准则
  • 多通道测量曲线显示,Event状态一目了然
  • 高精度且抗杂讯能力强大
  • 可与现有跌落试验机整合,达到自动测试功能
  • 可结合加速规模组,执行高于10000 g跌落电阻与加速度测量
  • 可结合应变模组,同时测量电阻与应变信息
  • 分析Peak 加速度、速度、Duration
  • 可做多次Drop之趋势分析

数据信息即时显示、记录、分析、各式报表生成于一体,有效提高工作效率。

技术规格

指标

规格

系统架构

PXI Express

插槽数

8

通道数

4N (N ≤ 16), Max. 64 Ch.

连续取样速度

Max. 50 kS/ch (@16 ch)

触发取样速度

Max. 1MS/ch

电阻测量解析度

16 bit

电阻测量档位

20Ω100Ω1kΩ10kΩ100kΩ1MΩ10MΩ

电阻波形记录

支持

长时连续记录

支持

测量方式

连续获取 外部触发获取

NG判断条件

每通道独立设定

各通道Fail准则

弹性设定(X Drop Y NG

与跌落机同步触发

支持

滤波功能

Low pass, High pass, Band pass

各通道滤波频率独立设定

统计运算

支持

虚拟通道

支持

图表格式

Y-T Graph, X-Y Graph, Bar Chart, Trend

Event过程记录

支持

报表输出格式

ExcelASCII

外部触发模组

高速光电感测器

g值加速度模组(Option

支持IEPE Charge Bridge Type加速规

分析Peak 加速度、速度、Duration

多次Drop趋势分析

支持语言

英文